Search again

Found: 2  Titles

Order by :    Show:   Per Page
image
Fundamental principles of engineering nanometrology / Richard K. Leach.
Author
Leach, Richard K.
Published
Amsterdam : Elsevier, c2010.
Call Number
T174.7 L38f
Location
ห้องสมุดสำนักการเรียนรู้ตลอดชีวิตฯ

image
Micro-manufacturing engineering and technology / edited by Yi Qin
Author
Qin, Yi,
Published
Amsterdam : Elsevier, c2010
Call Number
TS176 M51
Location
ห้องสมุดสำนักการเรียนรู้ตลอดชีวิตฯ

Search Tools: Get RSS Feed
Style Switcher
Theme Colors

Layout Styles