Search Results

Search again

Found: 14  Titles

Order by :    Show:   Per Page
Select Page   |   Deselect Page   |   Export saved(0)   |   Clear saved(0)
image
āļāļēāļĢāļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļĢāļ°āļšāļšāļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ‚āļ­āļ‡āļžāļ·āđ‰āļ™āļœāļīāļ§āđ‚āļ”āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩāļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļĄāļļāļĄāļŠāļąāļĄāļœāļąāļŠ = Improvement of surface property measuring system using contact angle measurement method / āļŠāļļāļĢāļēāļ‡āļ„āļ“āļē āļŠāļīāļ™āļ˜āļļāļĢāļ‡āļ„āđŒ, āļŠāļļāļĢāļĩāļ‰āļēāļĒ āļ‚āļąāļ™āļŠāļžāļąāļ”.
Author
āļŠāļļāļĢāļēāļ‡āļ„āļ“āļē āļŠāļīāļ™āļ˜āļļāļĢāļ‡āļ„āđŒ.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļĢāļ°āļšāļšāļ§āļąāļ”āđāļ§āļ™āđ€āļ”āļ­āļĢāđŒāļžāļēāļ§āđāļĨāļ°āļ›āļĢāļēāļāļāļāļēāļĢāļ“āđŒāļŪāļ­āļĨāļĨāđŒāļ„āļ§āļšāļ„āļļāļĄāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ„āļ­āļĄāļžāļīāļ§āđ€āļ•āļ­āļĢāđŒ = Improvement of computer-based system for van der pauw and hall effect measurement / āļ™āļĢāđ€āļĻāļĢāļĐāļāđŒ āļžāļīāļāļļāļĨāđ€āļ‡āļīāļ™, āļ“āļąāļāļ āļąāļ—āļĢ āđ€āļĢāđˆāļ‡āļĢāļąāļ”, āđ€āļŠāļēāļ§āļ“āļĩāļĒāđŒ...
Author
āļ™āļĢāđ€āļĻāļĢāļĐāļāđŒ āļžāļīāļāļļāļĨāđ€āļ‡āļīāļ™.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĨāļđāļāļŸāļīāļĨāđŒāļĄāļšāļēāļ‡āļ­āļĨāļđāļĄāļīāđ€āļ™āļĩāļĒāļĄāđ„āļ™āđ„āļ•āļĢāļ”āđŒāļšāļ™āļāļēāļ™āļĢāļ­āļ‡āļžāļ­āļĨāļīāđ€āļĄāļ­āļĢāđŒāđ‚āļ”āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩāļĢāļĩāđāļ­āļāļ—āļĩāļŸāļ­āļēāļĢāđŒāđ€āļ­āļŸāđāļĄāļāļ™āļĩāļ•āļĢāļ­āļ™āļŠāļ›āļąāļ•āđ€āļ•āļ­āļĢāļīāļ‡ = Growth of aluminium nitride thin films on polymer substrate (pet) by reactive rf magnetron sputtering / āļāļēāļ™...
Author
āļāļēāļ™āļīāļĻāļē āļ–āļēāđ‚āļ—.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĨāļđāļāđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļ•āļĢāļ§āļˆāļ§āļąāļ”āļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ‚āļ­āļ‡āļŸāļīāļĨāđŒāļĄāļšāļēāļ‡āđ€āļžāļĩāļĒāđ‚āļ‹āļ­āļīāđ€āļĨāđ‡āļāļ—āļĢāļīāļāļ­āļĨāļđāļĄāļīāđ€āļ™āļĩāļĒāļĄāđ„āļ™āđ„āļ•āļĢāļ”āđŒāđ€āļ•āļĢāļĩāļĒāļĄāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩāđāļ­āļāļ—āļĩāļŸāļ­āļēāļĢāđŒāđ€āļ­āļŸāđāļĄāļāļ™āļĩāļ•āļĢāļ­āļ™āļŠāļ›āļąāļ•āđ€āļ•āļ­āļĢāļīāļ‡ = Growth and characterization of piezoelectric aluminium nitride thin films prepare...
Author
āļ­āļĄāļĢ āđ€āļ—āļĻāļŠāļāļļāļĨāļ§āļ‡āļĻāđŒ.
Published
2556.
Call Number
EThesis
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļĢāļ°āļšāļšāļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ‚āļ­āļ‡āļŠāļēāļĢāļāļķāđˆāļ‡āļ•āļąāļ§āļ™āļģāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩ 4-Point Probe = The development of measurement system for property of semiconductor using Four-Point probe / āļāļĢāļĢāļŠāļīāļ”āļ—āļĢāļ‡ āđ‚āļžāļ˜āļīāđŒāļĻāļĢāļĩ, āļˆāļąāļāļĢāļžāļąāļ™āļ˜āđŒ āļ§āļīāļŠāļēāđ‚āļ„āļ•āļĢ.
Author
āļāļĢāļĢāļŠāļīāļ”āļ—āļĢāļ‡ āđ‚āļžāļ˜āļīāđŒāļĻāļĢāļĩ.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļĢāļ°āļšāļšāļ­āļīāđ€āļĨāđ‡āļāđ‚āļ—āļĢāļŠāļ›āļīāļ™āļ™āļīāđˆāļ‡āđ€āļžāļ·āđˆāļ­āļāļēāļĢāļŠāļąāļ‡āđ€āļ„āļĢāļēāļ°āļŦāđŒāđ€āļŠāđ‰āļ™āđƒāļĒāļ™āļēāđ‚āļ™ = Development of electrospinning system for nanofibers synthesis / āļĄāļēāļ™āļīāļ•āļē āļŠāļ™āļ°āļŦāļīāļĢāļąāļāļāļļāļĨāđ€āļ”āļŠ, āļĄāļļāļāļ”āļē āļ˜āļĢāļžāļĢāļŦāļĄāđāļāđ‰āļ§.
Author
āļĄāļēāļ™āļīāļ•āļē āļŠāļ™āļ°āļŦāļīāļĢāļąāļāļāļļāļĨāđ€āļ”āļŠ.
Published
2556.
Call Number
EThesis
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļĢāļ°āļšāļšāđ‚āļŸāđ‚āļ•āļĨāļđāļĄāļīāđ€āļ™āļŠāđ€āļ‹āļ™āļ•āđŒāļŠāļģāļŦāļĢāļąāļšāļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ‚āļ­āļ‡āļŠāļēāļĢāļāļķāđˆāļ‡āļ•āļąāļ§āļ™āļģ = Development of photoluminescence system for measurements of characteristics in semiconductor materials / āļ§āļąāļĨāļĨāļ  āļĄāļđāļĨāļ­āļļāļ”, āļŠāļļāļŽāļēāļĢāļąāļ•āļ™āđŒ āļŠāļĄāđ€āļŠāļĒ.
Author
āļ§āļąāļĨāļĨāļ  āļĄāļđāļĨāļ­āļļāļ”.
Published
2556.
Call Number
EThesis
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļ­āļīāļĨāļĨāļīāļ›āđ‚āļ‹āļĄāļīāđ€āļ•āļ­āļĢāđŒāđ€āļžāļ·āđˆāļ­āļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāđ€āļŠāļīāļ‡āđāļŠāļ‡āļ‚āļ­āļ‡āļŸāļīāļĨāđŒāļĄāļšāļēāļ‡ = Development of ellipsometer for measuring of optical properties of thin film / āļŠāļļāļ—āļ˜āļīāļ™āļĩ āļ­āļ āļīāļ§āļąāļ™āļ—āđŒ, āļŠāļļāļĢāļĩāļĒāđŒ āļĨāļģāđ€āļ āļē.
Author
āļŠāļļāļ—āļ˜āļīāļ™āļĩ āļ­āļ āļīāļ§āļąāļ™āļ—āđŒ.
Published
2556.
Call Number
EThesis
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāđ‚āļ›āļĢāđāļāļĢāļĄāļ„āļ­āļĄāļžāļīāļ§āđ€āļ•āļ­āļĢāđŒāđ€āļžāļ·āđˆāļ­āļ§āļīāđ€āļ„āļĢāļēāļ°āļŦāđŒāļ„āđˆāļēāļ„āļ‡āļ—āļĩāđˆāđ€āļŠāļīāļ‡āđāļŠāļ‡ āļˆāļēāļāļ‚āđ‰āļ­āļĄāļđāļĨāļāļēāļĢāļŠāđˆāļ‡āļœāđˆāļēāļ™āđāļŠāļ‡āļ‚āļ­āļ‡āļŸāļīāļĨāđŒāļĄāļšāļēāļ‡āđ‚āļ›āļĢāđˆāļ‡āđāļŠāļ‡ = Development of software for determination of optical properties in transparent thin films using tran...
Author
āļ˜āļĢāļĢāļĄāļĢāļļāļ• āļ”āļĩāļ‡āļēāļĄ.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļ„āļ§āļēāļĄāđ€āļĢāļĩāļĒāļšāļ‚āļ­āļ‡āļžāļ·āđ‰āļ™āļœāļīāļ§āđ‚āļ”āļĒāđƒāļŠāđ‰āđ€āļ—āļ„āļ™āļīāļ„āļ­āļīāļ™āđ€āļ•āļ­āļĢāđŒāđ€āļŸāļ­āđ‚āļĢāļĄāļīāļ•āļĢāļĩāđāļšāļšāđ€āļĨāļ·āđˆāļ­āļ™āđ€āļŸāļŠ : āļĢāļēāļĒāļ‡āļēāļ™āļāļēāļĢāļ§āļīāļˆāļąāļĒāļ‰āļšāļąāļšāļŠāļĄāļšāļđāļĢāļ“āđŒ = Surface flatness measurement using phase shift interferometry / āļ˜āļ™āļ āļĢāļ“āđŒ āļĨāļĩāļĨāļēāļ§āļąāļ’āļ™āļēāļ™āļ™āļ—āđŒ, āļ§āļĢāļēāļ§āļļāļ’āļī āđ€āļ–āļēāļĨāļąāļ”āļ”āļē...
Author
āļ˜āļ™āļ āļĢāļ“āđŒ āļĨāļĩāļĨāļēāļ§āļąāļ’āļ™āļēāļ™āļ™āļ—āđŒ.
Published
āļāļĢāļļāļ‡āđ€āļ—āļžāļŊ : āļ„āļ“āļ°āļ§āļīāļ—āļĒāļēāļĻāļēāļŠāļ•āļĢāđŒ āļŠāļ–āļēāļšāļąāļ™āđ€āļ—āļ„āđ‚āļ™āđ‚āļĨāļĒāļĩāļžāļĢāļ°āļˆāļ­āļĄāđ€āļāļĨāđ‰āļēāđ€āļˆāđ‰āļēāļ„āļļāļ“āļ—āļŦāļēāļĢāļĨāļēāļ”āļāļĢāļ°āļšāļąāļ‡, 2556.
Call Number
EResearch
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļĻāļķāļāļĐāļēāļāļēāļĢāļ—āļģāļ„āļ§āļēāļĄāļŠāļ°āļ­āļēāļ”āļžāļ·āđ‰āļ™āļœāļīāļ§āļ‚āļ­āļ‡āļŠāļēāļĢāļāļķāđˆāļ‡āļ•āļąāļ§āļ™āļģāļ”āđ‰āļ§āļĒāļžāļĨāļēāļŠāļĄāļēāļ‚āļ­āļ‡āļ­āļēāļĢāđŒāļāļ­āļ™āđāļĨāļ°āļ­āļēāļĢāđŒāļāļ­āļ™/āđ„āļŪāđ‚āļ”āļĢāđ€āļˆāļ™āļ—āļĩāđˆāļāļģāđ€āļ™āļīāļ”āđ‚āļ”āļĒāļ„āļĨāļ·āđˆāļ™āđ„āļĄāđ‚āļ„āļĢāđ€āļ§āļŸ = A study of plasma cleaning of semiconductor surface using argon and argon/hydrogen microw...
Author
āļ›āļīāļ•āļī āļŠāļīāļ™āļ™āļąāļ™āļ—āļ°āđ€āļŠāļ™.
Published
2556.
Call Number
EThesis
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļĻāļķāļāļĐāļēāļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ—āļēāļ‡āđāļŠāļ‡āđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļ™āļģāđ„āļŸāļŸāđ‰āļēāļ‚āļ­āļ‡āļŸāļīāļĨāđŒāļĄāļšāļēāļ‡āļ­āļīāļ™āđ€āļ”āļĩāļĒāļĄāļ—āļīāļ™āļ­āļ­āļāđ„āļ‹āļ”āđŒ āđ‚āļ”āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩāļ­āļēāļĢāđŒāđ€āļ­āļŸāđāļĄāļāļ™āļĩāļ•āļĢāļ­āļ™āļŠāļ›āļąāļ•āđ€āļ•āļ­āļĢāļīāļ‡ = A study of optical and electrical properties of indium tin oxide thin film by rf magnetron sputtering...
Author
āļŠāļĒāļēāļāļĢ āļĻāļ­āļāļˆāļ°āļšāļ.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāđ€āļ•āļĢāļĩāļĒāļĄāļŸāļīāļĨāđŒāļĄāļšāļēāļ‡āļ‹āļīāļ‡āļ„āđŒāļ­āļ­āļāđ„āļ‹āļ”āđŒāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩāļāļēāļĢāļˆāļļāđˆāļĄāđ€āļ„āļĨāļ·āļ­āļš = Zinc oxide thin film prepared by a dip coating method / āļĄāļ™āļąāļŠāļ™āļąāļ™āļ—āđŒ āļ—āļ­āļ‡āļ”āļĩ, āļĄāļļāļāļ”āļē āđāļ‹āđˆāļ•āļĩāđ‰.
Author
āļĄāļ™āļąāļŠāļ™āļąāļ™āļ—āđŒ āļ—āļ­āļ‡āļ”āļĩ.
Published
2556.
Call Number
EThesis
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļĢāļ°āļšāļšāļŠāļĢāđ‰āļēāļ‡āļ āļēāļžāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ­āļąāļĨāļ•āļĢāļēāđ‚āļ‹āļ™āļīāļ„āđāļšāļšāļ‹āļĩ-āļŠāđāļāļ™ = Ultrasonic C-scan imaging system / āļ“āļąāļāļžāļĨ āļāļ­āļ‡āļāļļāļĨ, āļ˜āļĩāļĢāļ§āļąāļ’āļ™āđŒ āļ—āļļāđ€āļšāļĩāđ‰āļĒ, āļ™āļĪāđ€āļšāļĻāļĢāđŒ āđāļāđ‰āļ§āđ€āļ‚āļĩāļĒāļ§.
Author
āļ“āļąāļāļžāļĨ āļāļ­āļ‡āļāļļāļĨ.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
Search Tools: Get RSS Feed

About us

WALAI AutoLib is library automation system produced by Informatic Innovation Research Unit (IIRU), Walailak University.

Statistics

 Starting from date  14 Dec 2562

Today
135
This month
50,306
This year
528,326
All
2,110,953

Recent News

āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļ„āļ“āļ°āļŠāļ–āļēāļ›āļąāļ•āļĒāļāļĢāļĢāļĄ āļĻāļīāļĨāļ›āļ°āđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļ­āļ­āļāđāļšāļš āļ›āļīāļ”āļšāļĢāļīāļāļēāļĢāļŠāļąāđˆāļ§āļ„āļĢāļēāļ§ āđ€āļžāļ·āđˆāļ­āļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļ­āļēāļ„āļēāļĢ

Read 1759

āļ§āļąāļ™-āđ€āļ§āļĨāļē āđ€āļ›āļīāļ”āđƒāļŦāđ‰āļšāļĢāļīāļāļēāļĢ āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļ„āļ“āļ°āļŠāļ–āļēāļ›āļąāļ•āļĒāļāļĢāļĢāļĄ āļĻāļīāļĨāļ›āļ°āđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļ­āļ­āļāđāļšāļš

Read 1496

āđ€āļ›āļīāļ”āļšāļĢāļīāļāļēāļĢāđƒāļŦāđ‰āļ„āļģāļ›āļĢāļķāļāļĐāļēāļāļēāļĢāđƒāļŠāđ‰āļ‡āļēāļ™āļĢāļ°āļšāļš iThesis (Counseling Services)

Read 829

Read More

Useful Links

Contact Us

1 Chalong Krung, 1 Alley, Lat Krabang, Bangkok 10520
Phone: 02 329 8556
Email: library@kmitl.ac.th
Enter to my library site (KLLC) KMITL Lifelong Learning Center

2020 ÂĐ WALAI AutoLib. ALL Rights Reserved. | utm20240604

Style Switcher
Theme Colors
Layout Styles
Wide
Boxed