Search Results

Search again

Search within results

Found: 2 Titles

Order by : Show: Per Page

Select Page | Deselect Page | Export saved(0) | Clear saved(0)

save

ระบบวัดและควบคุมความหนาของฟิล์มบางโดยไมโครคอมพิวเตอร์ (IBM PC/XT) = Thinfilms thickness measurement and control systemby microcomputer (IBM PC/XT) / ยงชัย ธรรมถิวัธ, นิทัศน์ ทองกูล.

Author

ยงชัย ธรรมถิวัธ.

Published

2533-2534.

Call Number

ปพ. ย117ร 2533-2534

Book Loading...

save

เอกซเรย์ดิฟแฟรกโตมิเตอร์ = X-ray diffractometer / บริสุทธิ์ สะเดา.

Author

บริสุทธิ์ สะเดา.

Published

2533-2534.

Call Number

ปพ. บ227อ 2533

Book Loading...

1

Search Tools: Get RSS Feed

Style Switcher

Theme Colors

Layout Styles

Wide

Boxed