Search Results

Search again

Found: 64  Titles

Order by :    Show:   Per Page
Select Page   |   Deselect Page   |   Export saved(0)   |   Clear saved(0)
image
āļāļēāļĢāļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļĢāļ°āļšāļšāļāļēāļĢāļˆāļļāđˆāļĄāđ€āļ„āļĨāļ·āļ­āļšāļ„āļ§āļšāļ„āļļāļĄāļ”āđ‰āļ§āļĒāđ„āļĄāđ‚āļ„āļĢāļ„āļ­āļ™āđ‚āļ—āļĢāļĨāđ€āļĨāļ­āļĢāđŒ = Improvement of dip-coating system based on microcontroller / āļĻāļīāļĢāļīāļžāļĢ āļ—āļ­āļ‡āđ€āļŠāļ·āđ‰āļ­, āļ­āļļāđ„āļĢāļžāļĢ āļ§āļīāļŦāļāļŦāļ‡āļĐāđŒ.
Author
āļĻāļīāļĢāļīāļžāļĢ āļ—āļ­āļ‡āđ€āļŠāļ·āđ‰āļ­.
Published
2559.
Call Number
EThesis
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļĢāļ°āļšāļšāļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļ„āļ§āļēāļĄāđ€āļĢāļĩāļĒāļšāļœāļīāļ§āđ‚āļ”āļĒāļ­āļēāļĻāļąāļĒāļŦāļĨāļąāļāļāļēāļĢāđāļ—āļĢāļāļŠāļ­āļ”āđāļšāļšāļāļēāļĢāļāļ§āļēāļ”āđāļ™āļ§āļ”āļīāđˆāļ‡ = Improvement of surface roughness measurement system based on vertical scanning interferometry / āļĻāļļāļ āļāļĪāļ• āļŠāđˆāļēāļ‡āļ—āļģ, āļ­āļīāļŠāļĢāļīāļĒāļē āļ™āļīāļŠāļŠāļąāļĒ...
Author
āļĻāļļāļ āļāļĪāļ• āļŠāđˆāļēāļ‡āļ—āļģ.
Published
2559.
Call Number
EThesis
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļĢāļ°āļšāļšāļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ‚āļ­āļ‡āļžāļ·āđ‰āļ™āļœāļīāļ§āđ‚āļ”āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩāļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļĄāļļāļĄāļŠāļąāļĄāļœāļąāļŠ = Improvement of surface property measuring system using contact angle measurement method / āļŠāļļāļĢāļēāļ‡āļ„āļ“āļē āļŠāļīāļ™āļ˜āļļāļĢāļ‡āļ„āđŒ, āļŠāļļāļĢāļĩāļ‰āļēāļĒ āļ‚āļąāļ™āļŠāļžāļąāļ”.
Author
āļŠāļļāļĢāļēāļ‡āļ„āļ“āļē āļŠāļīāļ™āļ˜āļļāļĢāļ‡āļ„āđŒ.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļĢāļ°āļšāļšāļ§āļąāļ”āļ›āļĢāļēāļāļāļāļēāļĢāļ“āđŒāļŪāļ­āļĨāļĨāđŒ āđ€āļžāļ·āđˆāļ­āļŦāļēāļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ‚āļ­āļ‡āļŠāļēāļĢāļāļķāđˆāļ‡āļ•āļąāļ§āļ™āļģāļ„āļ§āļšāļ„āļļāļĄāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ„āļ­āļĄāļžāļīāļ§āđ€āļ•āļ­āļĢāđŒ = Improvement of computer-based system for determination of semiconductor properties by hall effect measurement / āļˆāļī...
Author
āļˆāļīāļĢāļ™āļąāļ™āļ—āđŒ āđ€āļˆāļĢāļīāļāļžāļąāļ™āļ˜āđŒ.
Published
2558.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļĢāļ°āļšāļšāļ§āļąāļ”āļ›āļĢāļēāļāļāļāļēāļĢāļ“āđŒāļŪāļ­āļĨāļĨāđŒāđ€āļžāļ·āđˆāļ­āļŦāļēāļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ‚āļ­āļ‡āļŠāļēāļĢāļāļķāđˆāļ‡āļ•āļąāļ§āļ™āļģāļ„āļ§āļšāļ„āļļāļĄāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ„āļ­āļĄāļžāļīāļ§āđ€āļ•āļ­āļĢāđŒ = Improvement of computer-based system for determination of semiconductor properties by hall effect measurement / āļ‰āļąāļ•...
Author
āļ‰āļąāļ•āļĢāļĨāļąāļ”āļ”āļē āđ€āļāļīāļ”āđāļĒāđ‰āļĄ.
Published
2559.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļĢāļ°āļšāļšāļ§āļąāļ”āđāļ§āļ™āđ€āļ”āļ­āļĢāđŒāļžāļēāļ§āđāļĨāļ°āļ›āļĢāļēāļāļāļāļēāļĢāļ“āđŒāļŪāļ­āļĨāļĨāđŒāļ„āļ§āļšāļ„āļļāļĄāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ„āļ­āļĄāļžāļīāļ§āđ€āļ•āļ­āļĢāđŒ = Improvement of computer-based system for van der pauw and hall effect measurement / āļ™āļĢāđ€āļĻāļĢāļĐāļāđŒ āļžāļīāļāļļāļĨāđ€āļ‡āļīāļ™, āļ“āļąāļāļ āļąāļ—āļĢ āđ€āļĢāđˆāļ‡āļĢāļąāļ”, āđ€āļŠāļēāļ§āļ“āļĩāļĒāđŒ...
Author
āļ™āļĢāđ€āļĻāļĢāļĐāļāđŒ āļžāļīāļāļļāļĨāđ€āļ‡āļīāļ™.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĨāļđāļāļŸāļīāļĨāđŒāļĄāļšāļēāļ‡āļ­āļĨāļđāļĄāļīāđ€āļ™āļĩāļĒāļĄāđ„āļ™āđ„āļ•āļĢāļ”āđŒāļšāļ™āļāļēāļ™āļĢāļ­āļ‡āļžāļ­āļĨāļīāđ€āļĄāļ­āļĢāđŒāđ‚āļ”āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩāļĢāļĩāđāļ­āļāļ—āļĩāļŸāļ­āļēāļĢāđŒāđ€āļ­āļŸāđāļĄāļāļ™āļĩāļ•āļĢāļ­āļ™āļŠāļ›āļąāļ•āđ€āļ•āļ­āļĢāļīāļ‡ = Growth of aluminium nitride thin films on polymer substrate (pet) by reactive rf magnetron sputtering / āļāļēāļ™...
Author
āļāļēāļ™āļīāļĻāļē āļ–āļēāđ‚āļ—.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĨāļđāļāļŸāļīāļĨāđŒāļĄāļšāļēāļ‡āđ€āļ—āļ­āļĢāđŒāđ‚āļĄāđ‚āļ„āļĢāļĄāļīāļāļ‚āļ­āļ‡ VO₂ āļ”āđ‰āļ§āļĒāļĢāļĩāđāļ­āļ„āļ—āļĩāļŸāļ­āļēāļĢāđŒāđ€āļ­āļŸāđāļĄāļāļ™āļĩāļ•āļĢāļ­āļ™āļŠāļ›āļąāļ•āđ€āļ•āļ­āļĢāļīāļ‡ = Deposition of thermochromic thin film of VO₂ by reactive rf magnetron sputtering / āļāļąāļ™āļ•āļīāļĒāļē āļ„āļ‡āļŠāļ–āļīāļ•āļĒāđŒ, āļ™āļīāđ‚āļĨāļšāļĨ āđ‚āļŠāļ•āļīāļŠāļ™āļ˜āļīāđŒ, āļ§āļīāļĐāļē...
Author
āļāļąāļ™āļ•āļīāļĒāļē āļ„āļ‡āļŠāļ–āļīāļ•āļĒāđŒ.
Published
2559.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļ›āļĨāļđāļāđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļ•āļĢāļ§āļˆāļ§āļąāļ”āļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ‚āļ­āļ‡āļŸāļīāļĨāđŒāļĄāļšāļēāļ‡āđ€āļžāļĩāļĒāđ‚āļ‹āļ­āļīāđ€āļĨāđ‡āļāļ—āļĢāļīāļāļ­āļĨāļđāļĄāļīāđ€āļ™āļĩāļĒāļĄāđ„āļ™āđ„āļ•āļĢāļ”āđŒāđ€āļ•āļĢāļĩāļĒāļĄāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩāđāļ­āļāļ—āļĩāļŸāļ­āļēāļĢāđŒāđ€āļ­āļŸāđāļĄāļāļ™āļĩāļ•āļĢāļ­āļ™āļŠāļ›āļąāļ•āđ€āļ•āļ­āļĢāļīāļ‡ = Growth and characterization of piezoelectric aluminium nitride thin films prepare...
Author
āļ­āļĄāļĢ āđ€āļ—āļĻāļŠāļāļļāļĨāļ§āļ‡āļĻāđŒ.
Published
2556.
Call Number
EThesis
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļ‹āļ­āļŸāļ•āđŒāđāļ§āļĢāđŒāļŠāļģāļŦāļĢāļąāļšāļĢāļ°āļšāļšāļ§āļąāļ”āļĄāļļāļĄāļŠāļąāļĄāļœāļąāļŠ = Software development for contact angle measuring system / āļˆāļīāļĢāļ°āđ€āļ”āļŠ āļ­āđˆāļ­āļ™āļŠāļļāļĢāļ°āļ—āļļāļĄ, āļŠāļļāļ§āļīāļĄāļĨ āļĻāļĢāļĩāļŠāļļāļĄāļēāļĨāļĒāđŒ.
Author
āļˆāļīāļĢāļ°āđ€āļ”āļŠ āļ­āđˆāļ­āļ™āļŠāļļāļĢāļ°āļ—āļļāļĄ.
Published
2553.
Call Number
āļ›āļž. āļˆ517āļ 2553
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļ‹āļ­āļŸāļ•āđŒāđāļ§āļĢāđŒāļŠāļģāļŦāļĢāļąāļšāđ€āļ„āļĢāļ·āđˆāļ­āļ‡āļ­āļīāļĨāļĨāļīāļ›āđ‚āļ‹āļĄāļīāđ€āļ•āļ­āļĢāđŒ = Software development for ellipsometer / āļˆāļīāļ•āļ•āļī āļĢāļļāļˆāļīāļžāļąāļ’āļ™āļžāļ‡āļĻāđŒ.
Author
āļˆāļīāļ•āļ•āļī āļĢāļļāļˆāļīāļžāļąāļ’āļ™āļžāļ‡āļĻāđŒ.
Published
2553.
Call Number
āļ›āļž. āļˆ419āļ 2553
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļ‹āļ­āļŸāļ—āđŒāđāļ§āļĢāđŒāđ€āļžāļ·āđˆāļ­āļāļēāļĢāļ§āļīāđ€āļ„āļĢāļēāļ°āļŦāđŒāļĨāļģāđāļŠāļ‡āđ€āļĨāđ€āļ‹āļ­āļĢāđŒ = Software development for laser beam profiler / āļāļĄāļĨāļ§āļĢāļ“āļĩ āđ€āļ—āļžāļ˜āļĢāļēāļ™āļ™āļ—āđŒ, āļžāļąāļ’āļ™āļ°āļžāļ‡āļĐāđŒ āļŠāļļāļ§āļĢāļĢāļ“.
Author
āļāļĄāļĨāļ§āļĢāļ“āļĩ āđ€āļ—āļžāļ˜āļĢāļēāļ™āļ™āļ—āđŒ.
Published
2541.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļĢāļ°āļšāļšāļāļēāļĢāļ„āļ§āļšāļ„āļļāļĄāļ­āļļāļ“āļŦāļ āļđāļĄāļīāļ‚āļ­āļ‡āđ€āļ•āļēāļ­āļšāļ„āļ§āļēāļĄāļĢāđ‰āļ­āļ™āļŠāļđāļ‡āļ”āđ‰āļ§āļĒāļ•āļąāļ§āļ„āļ§āļšāļ„āļļāļĄāđāļšāļšāļžāļĩāđ„āļ­āļ”āļĩ = The development of temperature control system for high temperation oven using PID controller / āļāļīāļ•āļ•āļī āđ„āļāļĢāđ€āļ—āļž, āļ˜āļąāļŠāļžāļĨ āļĢāļąāļāļšāđ‰āļēāļ™āđ€āļāļīāļ”.
Author
āļāļīāļ•āļ•āļī āđ„āļāļĢāđ€āļ—āļž.
Published
2557.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļĢāļ°āļšāļšāļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļ„āļ§āļēāļĄāđ€āļĢāļĩāļĒāļšāļœāļīāļ§āđ‚āļ”āļĒāļ­āļēāļĻāļąāļĒāļŦāļĨāļąāļāļāļēāļĢāđāļ—āļĢāļāļŠāļ­āļ”āđāļšāļšāļāļēāļĢāļāļ§āļēāļ”āđāļ™āļ§āļ”āļīāđˆāļ‡ = Development of survace roughness measurement system based on vertical scanning interferometry / āļāļąāļ“āļ‘āđŒāļāļ™āļāļŠāļīāļ™ āļ§āļ‡āļĻāđŒāļŠāļāļļāļĨāļ­āļĄāļĢ, āļ āļēāļ™āļĢāļīāļ™āļ—...
Author
āļāļąāļ“āļ‘āđŒāļāļ™āļāļŠāļīāļ™ āļ§āļ‡āļĻāđŒāļŠāļāļļāļĨāļ­āļĄāļĢ.
Published
2558.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
image
āļāļēāļĢāļžāļąāļ’āļ™āļēāļĢāļ°āļšāļšāļāļēāļĢāļ§āļąāļ”āļŠāļĄāļšāļąāļ•āļīāļ‚āļ­āļ‡āļŠāļēāļĢāļāļķāđˆāļ‡āļ•āļąāļ§āļ™āļģāļ”āđ‰āļ§āļĒāļ§āļīāļ˜āļĩ 4-Point Probe = The development of measurement system for property of semiconductor using Four-Point probe / āļāļĢāļĢāļŠāļīāļ”āļ—āļĢāļ‡ āđ‚āļžāļ˜āļīāđŒāļĻāļĢāļĩ, āļˆāļąāļāļĢāļžāļąāļ™āļ˜āđŒ āļ§āļīāļŠāļēāđ‚āļ„āļ•āļĢ.
Author
āļāļĢāļĢāļŠāļīāļ”āļ—āļĢāļ‡ āđ‚āļžāļ˜āļīāđŒāļĻāļĢāļĩ.
Published
2556.
Call Number
EProject
Location
āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļŠāļģāļ™āļąāļāļāļēāļĢāđ€āļĢāļĩāļĒāļ™āļĢāļđāđ‰āļ•āļĨāļ­āļ”āļŠāļĩāļ§āļīāļ•āļŊ
Book Loading...
Search Tools: Get RSS Feed

About us

WALAI AutoLib is library automation system produced by Informatic Innovation Research Unit (IIRU), Walailak University.

Statistics

 Starting from date  14 Dec 2562

Today
186
This month
51,474
This year
469,866
All
2,066,595

Recent News

āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļ„āļ“āļ°āļŠāļ–āļēāļ›āļąāļ•āļĒāļāļĢāļĢāļĄ āļĻāļīāļĨāļ›āļ°āđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļ­āļ­āļāđāļšāļš āļ›āļīāļ”āļšāļĢāļīāļāļēāļĢāļŠāļąāđˆāļ§āļ„āļĢāļēāļ§ āđ€āļžāļ·āđˆāļ­āļ›āļĢāļąāļšāļ›āļĢāļļāļ‡āļ­āļēāļ„āļēāļĢ

Read 1726

āļ§āļąāļ™-āđ€āļ§āļĨāļē āđ€āļ›āļīāļ”āđƒāļŦāđ‰āļšāļĢāļīāļāļēāļĢ āļŦāđ‰āļ­āļ‡āļŠāļĄāļļāļ”āļ„āļ“āļ°āļŠāļ–āļēāļ›āļąāļ•āļĒāļāļĢāļĢāļĄ āļĻāļīāļĨāļ›āļ°āđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļ­āļ­āļāđāļšāļš

Read 1467

āđ€āļ›āļīāļ”āļšāļĢāļīāļāļēāļĢāđƒāļŦāđ‰āļ„āļģāļ›āļĢāļķāļāļĐāļēāļāļēāļĢāđƒāļŠāđ‰āļ‡āļēāļ™āļĢāļ°āļšāļš iThesis (Counseling Services)

Read 805

Read More

Useful Links

Contact Us

1 Chalong Krung, 1 Alley, Lat Krabang, Bangkok 10520
Phone: 02 329 8556
Email: library@kmitl.ac.th
Enter to my library site (KLLC) KMITL Lifelong Learning Center

2020 ÂĐ WALAI AutoLib. ALL Rights Reserved. | utm20240604

Style Switcher
Theme Colors
Layout Styles
Wide
Boxed