Search again

Found: 2  Titles

Order by :    Show:   Per Page
image
Chip design for submicron VLSI : CMOS layout and simulation / John P. Uyemura
Author
Uyemura, John P.
Published
Ontario : Thomson, c2006.
Call Number
TK7871.99.M44 U98c
Location
ห้องสมุดสำนักการเรียนรู้ตลอดชีวิตฯ

image
VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Published
Amsterdam : Elsevier, c2006
Call Number
TK7874.75 V6
Location
ห้องสมุดสำนักการเรียนรู้ตลอดชีวิตฯ

Search Tools: Get RSS Feed
Style Switcher
Theme Colors

Layout Styles