Search Results

Search again

Found: 2  Titles

Order by :    Show:   Per Page
Select Page   |   Deselect Page   |   Export saved(0)   |   Clear saved(0)
image
การปรับปรุงเทคนิคการวิเคราะห์ผลผลิตด้านความบกพร่องแบบสุ่มของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์บนแผ่นซิลิคอน : รายงานการวิจัยฉบับสมบูรณ์ = Improvement in random defect yield analysis of electronics device on silico...
Author
วีระ เพ็งจันทร์.
Published
กรุงเทพฯ : คณะวิศวกรรมศาสตร์ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง, 2558.
Call Number
EResearch
Location
ห้องสมุดสำนักการเรียนรู้ตลอดชีวิตฯ
Book Loading...
image
เทคนิคการวิเคราะห์ผลผลิตด้านความบกพร่องของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์บนแผ่นซิลิคอน : รายงานการวิจัยฉบับสมบูรณ์ = Defect and yield analysis of electronics devices on silicon wafer / วีระ เพ็งจันทร์.
Author
วีระ เพ็งจันทร์.
Published
กรุงเทพฯ : คณะวิศวกรรมศาสตร์ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง, 2557.
Call Number
EResearch
Location
ห้องสมุดสำนักการเรียนรู้ตลอดชีวิตฯ
Book Loading...
Search Tools: Get RSS Feed

About us

WALAI AutoLib is library automation system produced by Informatic Innovation Research Unit (IIRU), Walailak University.

Statistics

 Starting from date  14 Dec 2562

Today
1,253
This month
30,211
This year
508,231
All
2,090,858

Recent News

ห้องสมุดคณะสถาปัตยกรรม ศิลปะและการออกแบบ ปิดบริการชั่วคราว เพื่อปรับปรุงอาคาร

Read 1752

วัน-เวลา เปิดให้บริการ ห้องสมุดคณะสถาปัตยกรรม ศิลปะและการออกแบบ

Read 1491

เปิดบริการให้คำปรึกษาการใช้งานระบบ iThesis (Counseling Services)

Read 824

Read More

Useful Links

Contact Us

1 Chalong Krung, 1 Alley, Lat Krabang, Bangkok 10520
Phone: 02 329 8556
Email: library@kmitl.ac.th
Enter to my library site (KLLC) KMITL Lifelong Learning Center

2020 © WALAI AutoLib. ALL Rights Reserved. | utm20240604

Style Switcher
Theme Colors
Layout Styles
Wide
Boxed